本申請涉及顯示，特別是涉及一種檢測電路、顯示面板以及檢測方法。

背景技術(shù)：

1、oled(organic?light?emitting?display，有機發(fā)光二級光)顯示技術(shù)在可穿戴設(shè)備、曲面屏手機、虛擬現(xiàn)實設(shè)備等新興電子消費品的商業(yè)化程度不斷提高，為平面顯示行業(yè)注入了新的發(fā)展動力。近年來，隨著工藝改進，oled顯示面板在性能不斷提升的同時，成本得到了有效把控，這也進一步提升了oled產(chǎn)品的市場競爭力，市場占比持續(xù)提升。

2、現(xiàn)有顯示面板中的檢測電路檢測的信號較為單一，無法對顯示面板中的信號進行系統(tǒng)的評估，而為了更為系統(tǒng)地評估顯示面板，設(shè)置較多的檢測電路使得布線密度大幅增加，增加了制造的成本，如何設(shè)計功能性更強的檢測電路成為了關(guān)鍵。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請?zhí)峁┮环N檢測電路、顯示面板以及檢測方法，可以使得對于顯示面板的檢測更為系統(tǒng)全面。

2、本申請第一方面提供一種檢測電路，用于顯示面板，所述顯示面板包括驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于向所述檢測電路提供基準(zhǔn)電壓信號，所述檢測電路包括至少一個檢測子電路，所述檢測子電路包括：選通模塊，用于將所接收的至少一個待測電壓信號分數(shù)輸出；運算模塊，與所述選通模塊電連接，用于根據(jù)基準(zhǔn)電壓信號與所述選通模塊輸出的所述待測電壓信號進行運算，得到運算結(jié)果；傳輸模塊，與所述運算模塊電連接，用于傳輸所述運算結(jié)果。

3、在一實施方式中，所述選通模塊包括：選通電路，所述選通電路包括至少一個選通子電路和至少一個第一控制線，所述選通子電路的輸入端用于接收所述待測電壓信號，所述選通子電路的輸出端與所述運算模塊電連接，且不同的所述選通子電路用于接收不同的所述待測電壓信號；至少一個所述第一控制線與至少一個所述選通子電路一一對應(yīng)，所述第一控制線與對應(yīng)的所述選通子電路電連接以控制所述選通子電路開啟或者關(guān)閉。

4、優(yōu)選地，所述至少一個選通子電路至少包括第一選通子電路、第二選通子電路以及第三選通子電路，所述第一選通子電路、所述第二選通子電路、所述第三選通子電路分別接收數(shù)據(jù)電壓信號、復(fù)位電壓信號、電源信號。

5、在一實施方式中，所述選通子電路包括開關(guān)元件，所述開關(guān)元件的第一端用于接收所述待測電壓信號，所述開關(guān)元件的第二端作為所述選通子電路的輸出端而與所述運算模塊電連接，所述開關(guān)元件的控制端與所述選通子電路對應(yīng)的所述第一控制線電連接。

6、優(yōu)選地，所述開關(guān)元件為薄膜晶體管。

7、在一實施方式中，所述檢測子電路的數(shù)量為多個，多個所述檢測子電路中類型相同的所述第一控制線復(fù)用，其中，類型相同的所述第一控制線電連接的所述選通子電路的類型相同，而類型相同的所述選通子電路接收相同類型的所述待測電壓信號。

8、在一實施方式中，所述運算模塊包括：運算放大器，所述運算放大器的第一輸入端與所述選通模塊電連接，用于接收所述選通模塊輸出的所述待測電壓信號，所述運算放大器的第二輸入端用于接收所述基準(zhǔn)電壓信號，所述運算放大器的輸出端與所述傳輸模塊電連接，用于將所述運算結(jié)果輸送給所述傳輸模塊。

9、優(yōu)選地，所述運算放大器的第一輸入端為反相輸入端，所述運算放大器的第二輸入端為同相輸入端。

10、在一實施方式中，所述運算模塊還包括：第一電阻，電連接所述運算放大器的第一輸入端與所述選通模塊；第二電阻，一端與所述運算放大器的第一輸入端電連接，另一端與所述運算放大器的輸出端電連接。

11、優(yōu)選地，所述第二電阻的電阻值與所述第一電阻的電阻值的比值介于10～100之間。

12、在一實施方式中，所述傳輸模塊包括：移位寄存器，所述移位寄存器的輸入端與所述運算模塊電連接。

13、優(yōu)選地，所述檢測子電路的數(shù)量為多個，多個所述檢測子電路中的所述移位寄存器的輸出端串行電連接。

14、本申請第二方面還提供一種顯示面板，包括電連接的像素列和至少一個檢測端口，至少一個所述檢測端口與上述任一項實施方式中所述檢測電路的檢測子電路電連接，至少一個所述檢測端口用于將所述像素列輸出的至少一個所述待測電壓信號傳輸給所述檢測電路。

15、優(yōu)選地，所述像素列的數(shù)量為多個，所述檢測子電路的數(shù)量為多個，多個所述檢測子電路與多個所述像素列一一對應(yīng)，所述檢測子電路與對應(yīng)的所述像素列電連接。

16、在一實施方式中，所述顯示面板還包括：驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于向所述選通模塊輸入控制信號，以使所述選通模塊根據(jù)所述控制信號，將所接收的至少一個所述待測電壓信號分時輸出。

17、優(yōu)選地，所述驅(qū)動芯片還用于向所述運算模塊輸入所述基準(zhǔn)電壓信號。

18、本申請第三方面提供一種檢測方法，所述方法利用上述任一項實施方式中所述的檢測電路對上述任一項實施方式中所述的顯示面板進行檢測，所述方法包括：控制所述選通模塊輸出所接收的至少一個所述待測電壓信號中的目標(biāo)電壓信號；獲取所述傳輸模塊傳輸?shù)乃鲞\算結(jié)果；根據(jù)所述運算結(jié)果，確定是否要對所述像素列輸出的所述目標(biāo)電壓信號進行調(diào)整。

19、區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)，本申請的有益效果是：本申請設(shè)置選通模塊將接收到的多個待測電壓信號中分時送入運算模塊，而運算模塊每次接收到選通模塊送入的待測電壓信號后，會根據(jù)基準(zhǔn)電壓信號與選通模塊送入的待測電壓信號進行運算，從而得到運算結(jié)果，因此通過本申請的檢測電路能夠?qū)x通模塊所接收的所有待測電壓信號都進行測試，因此可以保證測試的全面性，同時選通模塊的設(shè)置還減少了待測電壓信號需要對應(yīng)的運算模塊的數(shù)量，使得檢測電路的設(shè)計密度下降，也降低了制造的成本。

技術(shù)特征：

1.一種檢測電路，用于顯示面板，所述顯示面板包括驅(qū)動芯片，所述驅(qū)動芯片用于向所述檢測電路提供基準(zhǔn)電壓信號；其特征在于，所述檢測電路包括至少一個檢測子電路，所述檢測子電路包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述選通模塊包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測電路，其特征在于，

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測電路，其特征在于，

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述運算模塊包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測電路，其特征在于，所述運算模塊還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項所述的檢測電路，其特征在于，所述傳輸模塊包括：

8.一種顯示面板，其特征在于，包括電連接的像素列和至少一個檢測端口，至少一個所述檢測端口與權(quán)利要求1至7中任一項所述檢測電路的檢測子電路電連接，至少一個所述檢測端口用于將所述像素列輸出的至少一個所述待測電壓信號傳輸給所述檢測電路；

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括：

10.一種檢測方法，其特征在于，所述方法利用權(quán)利要求1-7任一項所述的檢測電路對權(quán)利要求8或9所述的顯示面板進行檢測，所述方法包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種檢測電路、顯示面板以及檢測方法，用于顯示面板，顯示面板包括驅(qū)動芯片，驅(qū)動芯片用于向檢測電路提供基準(zhǔn)電壓信號，檢測電路包括至少一個檢測子電路，檢測子電路包括：選通模塊，用于選擇輸出所接收的至少一個待測電壓信號中的一個待測電壓信號；運算模塊，與選通模塊電連接，用于根據(jù)基準(zhǔn)電壓信號與選通模塊輸出的待測電壓信號進行運算，得到運算結(jié)果；傳輸模塊，與運算模塊電連接，用于傳輸運算結(jié)果。本申請的檢測電路可以使得對于顯示面板的檢測更為系統(tǒng)全面。

技術(shù)研發(fā)人員：代仁華,曹英,許傳志
受保護的技術(shù)使用者：廣州國顯科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21