本發(fā)明涉及鋰電池生產,具體涉及供一種micro-led修復設備與修復方法。
背景技術:
1、在micro-led的制造過程中,由于各種因素可能導致器件的性能存在差異或不符合預期,通過修復(trimming)這一工藝步驟,可以對micro-led的電學、光學等性能進行調整和優(yōu)化,例如調整電流、亮度、波長等參數(shù),以提高器件的一致性和性能,滿足實際應用的需求。
2、現(xiàn)有技術中采用飛秒或納秒激光可以修復micro-led芯片上的缺陷或進行改性處理。例如,通過激光誘導的局部加熱或化學反應,可以修復芯片上的短路或開路問題,提高芯片的性能和可靠性。
3、另外,采用飛秒或納秒激光可以實現(xiàn)高精度的芯片切割,將micro-led芯片從晶圓上分離出來。這種激光切割技術具有非接觸、高精度和高速度的特點,可以避免對芯片造成損傷。
4、但是現(xiàn)有的micro-led不同修整位置的厚度不同,當前的單激光光學系統(tǒng)無法滿足工藝需求,例如采用紫外飛秒激光器,其脈寬短,容易擊穿。
技術實現(xiàn)思路
1、為了克服現(xiàn)有技術的不足,本發(fā)明提供一種micro-led修復設備與修復方法,更夠根據(jù)micro-led不同修整位置的厚度及時選擇納秒或飛秒激光加工,使micro-led上的芯片能夠準確去除,成功率可以達到95%以上,另外,焊盤修整平面度可以達到0.5um。
2、本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:
3、一種micro-led修復設備,包括紫外納秒子系統(tǒng)、紫外飛秒子系統(tǒng)、激光傳播路徑子系統(tǒng)和激光輸出子系統(tǒng),所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光和紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光均通過所述激光傳播路徑子系統(tǒng)傳遞到激光輸出子系統(tǒng),由所述激光輸出子系統(tǒng)輸出以進行激光加工。
4、作為上述技術方案的進一步改進,所述紫外納秒子系統(tǒng)包括紫外納秒激光器和第一激光鏡模塊,第一激光鏡模塊用于傳遞所述紫外納秒激光器發(fā)出的納秒激光至激光傳播路徑子系統(tǒng)。
5、作為上述技術方案的進一步改進,所述第一激光鏡模塊包括第一反射鏡組、第一擴束鏡組和第二反射鏡組,所述紫外納秒激光器發(fā)出的納秒激光依次經(jīng)過所述第一反射鏡組、第一擴束鏡組及第二反射鏡組后進入激光傳播路徑子系統(tǒng)。
6、作為上述技術方案的進一步改進,所述第一激光鏡模塊還包括電動狹縫光闌,所述電動狹縫光闌設置于第二反射鏡組與激光傳播路徑子系統(tǒng)之間,并用于控制納秒激光的光量及形狀。
7、作為上述技術方案的進一步改進,所述紫外飛秒子系統(tǒng)包括紫外飛秒激光器和第二激光鏡模塊,第二激光鏡模塊用于傳遞所述紫外飛秒激光器發(fā)出的飛秒激光至激光傳播路徑子系統(tǒng)。
8、作為上述技術方案的進一步改進,所述第二激光鏡模塊包括第三反射鏡組、二分之一波片和第二擴束鏡組,所述紫外飛秒激光器發(fā)出的飛秒激光依次經(jīng)過所述第三反射鏡組、二分之一波片及第二擴束鏡組后進入激光傳播路徑子系統(tǒng)。
9、作為上述技術方案的進一步改進,所述激光傳播路徑子系統(tǒng)包括偏振分光棱鏡、衰減器、第四反射鏡組、平凸透鏡和振鏡,所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光或紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光進入偏振分光棱鏡后已經(jīng)經(jīng)過衰減器、第四反射鏡組、平凸透鏡及振鏡。
10、作為上述技術方案的進一步改進,所述激光輸出子系統(tǒng)包括物鏡和視覺模塊,所述物鏡用于將聚焦激光束,所述視覺模塊用于加工視覺反饋以提高激光加工精度和質量。
11、作為上述技術方案的進一步改進,所述激光輸出子系統(tǒng)包括z軸驅動模組,所述z軸驅動模組用于調整所述物鏡與待加工物件的距離。
12、本發(fā)明還提供的技術方案是:
13、一種micro-led修復方法,采用所述micro-led修復設備實現(xiàn)micro-led修復的芯片去除工序及修焊盤工序,其中,micro-led修復的芯片去除工序時激光傳輸路徑為:所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光進入到所述激光傳播路徑子系統(tǒng),然后再進入到激光輸出子系統(tǒng),從所述激光輸出子系統(tǒng)輸出作用在待加工micro-led上;在micro-led修復的修焊盤工序時激光傳輸路徑為:所述紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光進入到所述激光傳播路徑子系統(tǒng),然后再進入到激光輸出子系統(tǒng),從所述激光輸出子系統(tǒng)輸出作用在待加工micro-led上。
14、本發(fā)明的有益效果是:通過紫外納秒激光能夠實現(xiàn)micro-led上芯片的準確去除,成功率可以達到95%以上;通過紫外飛秒激光能夠實現(xiàn)micro-led的修焊盤工作,焊盤修整平面度可以達到0.5um。本發(fā)明將紫外納秒和紫外飛秒集成在一個設備中,能夠及時選擇,提高了加工效率,另外紫外納秒和紫外飛秒共用激光傳播路徑子系統(tǒng)和激光輸出子系統(tǒng),降低了成本。
1.一種micro-led修復設備,其特征在于:包括紫外納秒子系統(tǒng)、紫外飛秒子系統(tǒng)、激光傳播路徑子系統(tǒng)和激光輸出子系統(tǒng),所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光和紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光均通過所述激光傳播路徑子系統(tǒng)傳遞到激光輸出子系統(tǒng),由所述激光輸出子系統(tǒng)輸出以進行激光加工。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述紫外納秒子系統(tǒng)包括紫外納秒激光器和第一激光鏡模塊,第一激光鏡模塊用于傳遞所述紫外納秒激光器發(fā)出的納秒激光至激光傳播路徑子系統(tǒng)。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述第一激光鏡模塊包括第一反射鏡組、第一擴束鏡組和第二反射鏡組,所述紫外納秒激光器發(fā)出的納秒激光依次經(jīng)過所述第一反射鏡組、第一擴束鏡組及第二反射鏡組后進入激光傳播路徑子系統(tǒng)。
4.根據(jù)權利要求3所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述第一激光鏡模塊還包括電動狹縫光闌,所述電動狹縫光闌設置于第二反射鏡組與激光傳播路徑子系統(tǒng)之間,并用于控制納秒激光的光量及形狀。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述紫外飛秒子系統(tǒng)包括紫外飛秒激光器和第二激光鏡模塊,第二激光鏡模塊用于將所述紫外飛秒激光器發(fā)出的飛秒激光傳遞至激光傳播路徑子系統(tǒng)。
6.根據(jù)權利要求5所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述第二激光鏡模塊包括第三反射鏡組、二分之一波片和第二擴束鏡組,所述紫外飛秒激光器發(fā)出的飛秒激光依次經(jīng)過所述第三反射鏡組、二分之一波片及第二擴束鏡組后進入激光傳播路徑子系統(tǒng)。
7.根據(jù)權利要求1所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述激光傳播路徑子系統(tǒng)包括偏振分光棱鏡、衰減器、第四反射鏡組、平凸透鏡和振鏡,所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光或紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光進入偏振分光棱鏡后依次經(jīng)過衰減器、第四反射鏡組、平凸透鏡及振鏡。
8.根據(jù)權利要求1所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述激光輸出子系統(tǒng)包括物鏡和視覺模塊,所述物鏡用于將聚焦激光束,所述視覺模塊用于加工視覺反饋以提高激光加工精度和質量。
9.根據(jù)權利要求8所述的一種micro-led修復設備,其特征在于:所述激光輸出子系統(tǒng)包括z軸驅動模組,所述z軸驅動模組用于調整所述物鏡與待加工物件的距離。
10.一種micro-led修復方法,其特征在于:采用權利要求1-9任一項所述的micro-led修復設備實現(xiàn)micro-led修復的芯片去除工序及修焊盤工序,其中,micro-led修復的芯片去除工序時激光傳輸路徑為:所述紫外納秒子系統(tǒng)輸出的納秒激光進入到所述激光傳播路徑子系統(tǒng),然后再進入到激光輸出子系統(tǒng),從所述激光輸出子系統(tǒng)輸出作用在待加工micro-led上;在micro-led修復的修焊盤工序時激光傳輸路徑為:所述紫外飛秒子系統(tǒng)輸出的飛秒激光進入到所述激光傳播路徑子系統(tǒng),然后再進入到激光輸出子系統(tǒng),從所述激光輸出子系統(tǒng)輸出作用在待加工micro-led上。